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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	干涉显微镜 6JA	干涉显微镜用途：本仪器适用于厂矿企业计量室，精密加工车间，也适用于高等院校，科学研究等单位。
	测量显微镜 15J	用途：测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下： 1.直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔圆直径等等。 2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.用作观察显微镜，以比较检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。
	干涉显微镜 6JATV	干涉显微镜用途：本仪器是用来测量加工零件（平面、圆柱等外表面）粗糙度的仪器，也可以用来测量零件表面刻线镀层等深度。配上TV系统，使观察更加清晰直观。
	光切法显微镜 9J	光切法显微镜用途：本仪器以光切法测量零件加工表面的微观不平度。其能判别国家标准GB1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度（表面粗糙度）对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。光切法特点是在不破坏表面的关况下进行的。是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。
	光切法显微镜 9J-TV	光切法显微镜用途：本仪器是以光切法测量零件加工表面的微观不平度，其能判别12.5-0.2级表面粗糙度，不破坏工件表面，测出截面轮廊的微观的不平深度和沟槽宽度的实际尺寸。配上TV系统，使观察更加清晰直观。
	测量显微镜 15JE	用途：测量显微镜是光学计量仪器之一种，它的结构简单，操作方便，适用范围极广，主要用途如下： 1.直角座标中测定长度，例如测定孔距，基面距离，刻线距离，刻线宽度，键槽宽度，狭缝宽度，通孔圆直径等等。 2.转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规，钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。 3.用作观察显微镜，以比较检查工作表面光洁度，鉴定冶金工业的矿石标本。
	阿贝比长仪 6W	阿贝比长仪用途：基于阿贝原理设计制造的高精度长度计量仪器，主要用于测量二线之间的距离及平面上二点之间的距离，并可作为摄谱仪的成套附件。
	光谱投影仪 8W	用途：光谱投影仪为摄谱仪成套设备之一，主要用于对摄谱仪所摄之光谱底板通过投影放大，与标准谱板或已知浓度的光谱进行定性或半定量分析，也可作为一投影放大用。
	测微光度计 9W	用途：测微光度计（又名显微光度计或黑度计）是摄谱仪器成套设备之一，主要用途是对各种摄谱仪所摄之谱片进行黑度测量，以确定被测元素的含量，完成光谱定量分析工作。还可用于照相膜层之密度检查和感光能力检查。以配合其它光学仪器作象差测量等。
	平行光管 5W	用途：平行光管是通过它取得来自无限远的光束，此光束谓之平行光。是装校调整光学仪器的重要工具，也是光学量度仪器中的重要组成部分，配用不同的分划板，连同测微目镜头，或显微镜系统，则可以测定透镜组的焦距，鉴别率，及其他成像质量。将附配的调整式平面反光镜固定于被检运动直线的工件上，用附配于光管的高斯自准目镜头，通过光管上的高斯目镜观察，可以进行运动工件的直线性检验。
	立式光学计 LG-1	立式光学计用途：本仪器是一采用量块或标准零件与试件相比较的方式来测量物体外形尺寸的仪器.主要用于五等精度量块、一级精度柱型规以及各种圆柱形、球型、线形等物体的直径或板形物体的厚度的精密测量，亦可用来控制精密零件的加工。
	数字立式光学计 JDG-S1	数字立式光学计用途：本仪器是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸．它可对五等量块、量棒、钢球、线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量. 本仪器头部亦可作为一个独立体，在科研、生产过程控制及在线检测等方面，对被测件作微小位移测量。
	维氏显微硬度计 HX-500	维氏显微硬度计用途：显微硬度计是由精密机械，光学系统和先进技术萃合而成的材料硬度测定仪器。主要用途有二种：一是用于单独进行硬度测定，如表面比较光洁的零件试样的硬度，各种电镀层、氮化层、渗碳层，氰化层零件的表层硬度，玻璃、陶瓷、玛瑙等脆性非金属材料的硬度；二是作金相显微镜用，即观察和拍摄材料的显微组织，并测定金相组织的显微硬度。
	维氏显微硬度计 HX-1000	维氏显微硬度计用途：本硬度计是一种机\光\电一体化的产品,特别适合金属簿小试件\脆性材料的显微硬度检测.采用无摩擦主轴结构,确保试验力稳定,测试精度高。
	表面粗糙度测试仪 JB-3C	表面粗糙度测试仪用途：本仪器用于计量室及生产现场对工作表面粗糙度进行高精度的测量，本仪器依据GB1031-83及ISO,DIN等标准设计，达到同类先进产品的水平。
	万能测长仪 JDY-2	万能测长仪用途：本仪器主要用于各种圆柱形，球形，平行平面等精密零件的外形，内孔尺寸的直接测量和比较测量，亦可进行内外螺纹中径等特殊测量，是各级计量室中必备的基本长度计量仪器之一。
	激光平面干涉仪 PG15—J	激光平面干涉仪用途：本仪器工作基于双光束等厚干涉原理。根据近代光学的研究结果，光兼有波动与微粒两重特性。光的干涉现象是光的波动性的特性。